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自銷熱紅外顯微鏡探測器

來源: 發(fā)布時間:2025-07-23

致晟光電自主研發(fā)的熱紅外顯微鏡 Thermal EMMI P系列,是電子工業(yè)中不可或缺的精密檢測工具,在半導體芯片、先進封裝技術、功率電子器件以及印刷電路板(PCB)等領域的失效分析中發(fā)揮著舉足輕重的作用。

該設備搭載——實時瞬態(tài)鎖相紅外熱分析(RTTLIT)系統(tǒng),并集成高靈敏度紅外相機、多倍率可選顯微鏡鏡頭、精確高低壓源表等技術組件,賦予其三大特性:超凡靈敏度與亞微米級檢測精度,可捕捉微弱熱信號與光子發(fā)射;高精度溫度測量能力(鎖相靈敏度達0.001℃),支持動態(tài)功耗分析;無損故障定位特性,無需破壞器件即可鎖定短路、開路等缺陷。憑借技術集成優(yōu)勢,ThermaEMMIP系列不僅能快速定位故障點,更能通過失效分析優(yōu)化產品質量與可靠性,為半導體制造、先進封裝及電子器件研發(fā)提供關鍵技術支撐。 熱紅外顯微鏡可捕捉物體熱輻射,助力電子元件熱分布與散熱性分析。自銷熱紅外顯微鏡探測器

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致晟光電推出的多功能顯微系統(tǒng),創(chuàng)新實現(xiàn)熱紅外與微光顯微鏡的集成設計,搭配靈活可選的制冷/非制冷模式,可根據您的實際需求定制專屬配置方案。這套設備的優(yōu)勢在于一體化集成能力:需一套系統(tǒng),即可同時搭載可見光顯微鏡、熱紅外顯微鏡及InGaAs微光顯微鏡三大功能模塊。這種設計省去了多設備切換的繁瑣,更通過硬件協(xié)同優(yōu)化提升了整體性能,讓您在同一平臺上輕松完成多波段觀測任務。相比單獨購置多套設備,該集成系統(tǒng)能大幅降低采購與維護成本,在保證檢測精度的同時,為實驗室節(jié)省空間與預算,真正實現(xiàn)性能與性價比的雙重提升。自銷熱紅外顯微鏡探測器定位芯片內部微短路、漏電、焊點虛接等導致的熱異常點。

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在國內失效分析設備領域,專注于原廠研發(fā)與生產的企業(yè)數量相對較少,尤其在熱紅外檢測這類高精度細分領域,具備自主技術積累的原廠更為稀缺。這一現(xiàn)狀既源于技術門檻 —— 需融合光學、紅外探測、信號處理等多學科技術,也受限于市場需求的專業(yè)化程度,導致多數企業(yè)傾向于代理或集成方案。

致晟光電正是國內少數深耕該領域的原廠之一。不同于單純的設備組裝,其從中樞技術迭代入手,在傳統(tǒng)熱發(fā)射顯微鏡基礎上進化出熱紅外顯微鏡,形成從光學系統(tǒng)設計、信號算法研發(fā)到整機制造的完整能力。這種原廠基因使其能深度理解國內半導體、材料等行業(yè)的失效分析需求,例如針對先進制程芯片的微小熱信號檢測、國產新材料的熱特性研究等場景,提供更貼合實際應用的設備與技術支持,成為本土失效分析領域不可忽視的自主力量。

近年來,非制冷熱紅外顯微鏡價格呈下行趨勢。在技術進步層面,國內紅外焦平面陣列芯片技術不斷突破,像元間距縮小、陣列規(guī)模擴大,從早期的 17μm、384×288 發(fā)展到如今主流的 12μm 像元,1280 ×1 024、1920 × 1080 陣列規(guī)模實現(xiàn)量產,如大立科技等企業(yè)推動技術升級,提升生產效率,降低單臺設備成本。同時,國產化進程加速,多家本土廠商崛起,如我司推出非制冷型鎖相紅外顯微鏡,打破進口壟斷格局,市場競爭加劇,促使產品價格更加親民。熱紅外顯微技術可透過硅片或封裝材料,實現(xiàn)非接觸式熱斑定位。

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熱紅外顯微鏡(Thermal EMMI) 作為一種能夠捕捉微觀尺度熱輻射信號的精密儀器,其優(yōu)勢在于對材料、器件局部溫度分布的高空間分辨率觀測。

然而,在面對微弱熱信號(如納米尺度結構的熱輻射、低功耗器件的散熱特性等)時,傳統(tǒng)熱成像方法易受環(huán)境噪聲、背景輻射的干擾,難以實現(xiàn)精細測量。鎖相熱成像技術的引入,為熱紅外顯微鏡突破這一局限提供了關鍵解決方案。通過鎖相熱成像技術的賦能,熱紅外顯微鏡從 “可見” 微觀熱分布升級為 “可測” 納米級熱特性,為微觀尺度熱科學研究與工業(yè)檢測提供了不可或缺的工具。 熱紅外顯微鏡幫助工程師分析電子設備過熱的根本原因 。無損熱紅外顯微鏡工作原理

熱紅外顯微鏡對集成電路進行熱檢測,排查內部隱藏故障 。自銷熱紅外顯微鏡探測器

除了熱輻射,電子設備在出現(xiàn)故障或異常時,還可能伴隨微弱的光發(fā)射增強。熱紅外顯微鏡搭載高靈敏度的光學探測器,如光電倍增管(PMT)或電荷耦合器件(CCD),能夠有效捕捉這些低強度的光信號。這類光發(fā)射通常源自電子在半導體材料中發(fā)生的能級躍遷、載流子復合或其他物理過程。通過對光發(fā)射信號的成像和分析,熱紅外顯微鏡不僅能夠進一步驗證熱點區(qū)域的存在,還可輔助判斷異常的具體機制,為故障定位和性能評估提供更精確的信息。自銷熱紅外顯微鏡探測器