若干涉條紋發(fā)生移動，一定是場點(diǎn)對應(yīng)的光程差發(fā)生了變化，引起光程差變化的原因，可能是光線長度L發(fā)生變化，或是光路中某段介質(zhì)的折射率n發(fā)生了變化，或是薄膜的厚度e發(fā)生了變化。S為點(diǎn)光源，M1（上邊）、M2（右邊）為平面全反射鏡，其中M1是定鏡；M2為動鏡，它和精密螺絲相連，轉(zhuǎn)動鼓輪可以使其向前后方向移動，最小讀數(shù)為10mm，可估計(jì)到10mm,。M1和M2后各有3個(gè)小螺絲可調(diào)節(jié)其方位。G1（左）為分光鏡，其右表面鍍有半透半反膜，使入射光分成強(qiáng)度相等的兩束（反射光和透射光）。干涉儀是一種用于測量光波或其他波動現(xiàn)象的儀器，利用干涉原理來分析波的特性。工業(yè)園區(qū)購買雙頻激光干涉儀性價(jià)比

常見的干涉儀包括：邁克爾遜干涉儀：由阿爾伯特·邁克爾遜發(fā)明，主要用于測量光的波長、干涉條紋的變化等。它通過將光束分成兩部分，分別經(jīng)過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣。法布里-佩**涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發(fā)明，主要用于高精度的光譜分析。它通過多次反射在兩個(gè)平面鏡之間形成干涉。光纖干涉儀：利用光纖中的光波干涉現(xiàn)象，廣泛應(yīng)用于傳感器、通信等領(lǐng)域。干涉儀的應(yīng)用包括測量微小位移、折射率、波長、材料的光學(xué)特性等。在科學(xué)研究和工業(yè)檢測中，干涉儀是一種非常重要的工具。工業(yè)園區(qū)購買雙頻激光干涉儀性價(jià)比雙頻激光干涉儀的發(fā)明使激光干涉儀擺脫了計(jì)量室的束縛，更為廣泛的應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中。

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統(tǒng)測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn)。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩(wěn)頻氦氖激光為光源，構(gòu)成一個(gè)具有干涉作用的測量系統(tǒng)。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機(jī)或測量儀器的校正工作。英文名稱：laser interferometer（激光干涉儀）

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標(biāo)準(zhǔn)對被測長度進(jìn)行度量的儀器。雙頻激光干涉儀可以在恒溫，恒濕，防震的計(jì)量室內(nèi)檢定量塊，量桿，刻尺和坐標(biāo)測量機(jī)等。它既可以對幾十米的大量程進(jìn)行精密測量，也可以對手表零件等微小運(yùn)動進(jìn)行精密測量，既可以對幾何量如長度、角度．直線度、平行度、平面度、垂直度等進(jìn)行測量，也可以用于特殊場合，諸如半導(dǎo)體光刻技術(shù)的微定位和計(jì)算機(jī)存儲器上記錄槽間距的測量等等。激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測量的精密儀器。

激光干涉儀具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，包括但不限于：科學(xué)研究：用于檢測引力波、測量微小位移和振動等。工業(yè)制造：用于精密機(jī)械加工、質(zhì)量控制和機(jī)床校準(zhǔn)等。在機(jī)床校準(zhǔn)中，激光干涉儀能夠測量機(jī)床的線性定位誤差、直線度誤差、偏擺角、俯仰角和滾動角等，以及速度、加速度、振動等參數(shù)，并評估機(jī)床的動態(tài)特性。計(jì)量學(xué)：用于長度標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)。通信：用于光纖傳感和信號處理。四、主要特點(diǎn)高精度：激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級的測量精度，非常適合各種高精度測量應(yīng)用。干涉圖樣分析：通過觀察干涉條紋的變化，可以獲取關(guān)于物體形狀、厚度等信息。工業(yè)園區(qū)購買雙頻激光干涉儀性價(jià)比

廣泛應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、機(jī)械工程、光學(xué)測量、精密制造等領(lǐng)域。工業(yè)園區(qū)購買雙頻激光干涉儀性價(jià)比

按干涉光來源區(qū)分：分為波前分解干涉儀和幅度分解干涉儀。波前分解干涉儀利用波前上不同位置的子波源形成干涉，如楊氏雙縫干涉；而幅度分解干涉儀則通過界面部分反射等方式將一束入射光分為兩束或多束形成干涉，如斐索干涉儀、邁克爾遜干涉儀和法布里-珀**涉儀等。四、應(yīng)用干涉儀在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，包括但不限于：光學(xué)測量：用于測量光波的波長、頻率和相位差。材料科學(xué)：用于分析材料的折射率、厚度和表面形貌。生物醫(yī)學(xué)：用于顯微鏡成像、生物傳感和醫(yī)學(xué)診斷。天文學(xué)：用于測量星體的直徑等。工業(yè)園區(qū)購買雙頻激光干涉儀性價(jià)比

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