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隨著電子產(chǎn)品的功能日益強大,PCB電路設計師將面對的是越來越復雜的電路設計和不斷縮小的電子元件尺寸。設計師們需要處理大量的信號線、電源線和地線,確保它們之間的干擾盡可能小,同時滿足電氣性能和可靠性要求。還需要在更小的空間內(nèi)布局更多的元件和電路,這要求設計師具備高超的布局和布線技術,以充分利用有限的板面空間。那如何才能早些知道設計的產(chǎn)品是否能夠滿足可靠性要求呢,答案就是充分運用導電陽極絲(CAF)測試的技術手段。CAF 測試系統(tǒng)技術含量高,提供為客戶提供技術支持團隊保證及時售后。國磊GEN3測試系統(tǒng)市價
隨著5G通信成為國內(nèi)主流,6G技術的預研也早已開展。我們大膽預測6G技術對CAF測試的影響:雖然6G技術尚未商用,但預研階段已經(jīng)對PCB技術和CAF測試提出了新的挑戰(zhàn)和要求。預計6G將采用新技術、新模式,滿足并超越5G的通信要求,對PCB的性能和可靠性將提出更高的要求。5G和6G技術中的CAF測試具有嚴格的特殊需求,包括更嚴格的PCB設計要求、特殊材料的應用、嚴格的CAF測試要求以及6G技術預研對CAF測試的影響。這些特殊需求要求PCB制造商和測試機構不斷提高技術水平,確保電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。東莞PCB測試系統(tǒng)工藝借助高性能 CAF 測試系統(tǒng),企業(yè)能更好把控產(chǎn)品質(zhì)量,提升市場競爭力。
隨著5G技術的快速發(fā)展,在該領域中CAF測試對于確保電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性至關重要。特別是在汽車電子領域,伴隨著智能駕駛技術的商用進程加快,由于汽車對于安全、舒適、經(jīng)濟性和娛樂性的需求日益增長,以及汽車電子化水平的不斷提高,CAF測試的需求也愈發(fā)重要。針對5G技術中CAF測試的特殊需求,可以從以下幾個方面進行分析:1.更嚴格的PCB設計要求:5G芯片需要更小的PCB孔間距,允許孔壁間距不超過,最小孔徑為,這對PCB制造加工技術提出了巨大挑戰(zhàn)。為了滿足高頻和高速通信的需求,PCB需要具有更低的傳輸線損耗、阻抗和及時延遲一致性。PCB的導線寬度以及導線間距也越來越小,層數(shù)也越來越密集,逐漸向高密度化的方向發(fā)展。2.特殊材料的應用:由于汽車中不同部位對PCB的要求不同,例如在發(fā)動機等高熱部位需要使用特殊材料(如陶瓷基、金屬基、高Tg)。為了滿足5G通信高速產(chǎn)品的要求,覆銅片樹脂Dk/Df需更小,樹脂體系逐漸向混合樹脂或聚四氟乙烯材料靠攏。3.嚴格的CAF測試要求:在汽車電子中,CAF測試是評估PCB在長期高電壓、高電流和高溫環(huán)境下是否會出現(xiàn)導電陽極絲現(xiàn)象的重要手段。隨著汽車電子化水平的提高,CAF測試的需求也越來越大。
CAF測試結果通常以電阻值變化、絕緣失效時間等關鍵指標呈現(xiàn)。在解析測試結果時,需要重點關注以下三個方面:一是電阻值變化。測試過程中,若觀察到電阻值明顯降低,可能意味著絕緣層出現(xiàn)了導電通道,即發(fā)生了CAF現(xiàn)象。電阻值的變化幅度和速率,是評估CAF程度的重要指標。二是絕緣失效時間。絕緣失效時間指的是從測試開始到絕緣層完全失效所需的時間。這個時間的長短直接反映了絕緣層的可靠性和耐用性。較短的絕緣失效時間意味著絕緣層更容易受到CAF現(xiàn)象的影響。三是失效模式分析。除了關注電阻值和絕緣失效時間外,還需要對失效模式進行深入分析。通過檢查失效位置的形貌、材料狀態(tài)等信息,可以進一步了解CAF現(xiàn)象產(chǎn)生的原因和機制,為后續(xù)的改進提供科學依據(jù)。通過多通道導電陽極絲測試系統(tǒng),用戶可以快速發(fā)現(xiàn)PCB板的問題,提高產(chǎn)品質(zhì)量。
CAF(Conductive Anodic Filament)導電陽極絲測試設備是一種信賴性試驗設備,主要用于評估印制線路板(PCB)內(nèi)部在電場作用下,跨越非金屬基材遷移傳輸?shù)膶щ娦越饘冫}構成的電化學遷移(CAF)現(xiàn)象。該測試通過給予印刷電路板一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE),并經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時),觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(IONMIGRATION),并記錄電阻值變化狀況。因此,它也被稱為絕緣劣化試驗、絕緣阻力電阻試驗,或OPEN/SHORT試驗。多通道高阻測試設備是驗證電纜絕緣層質(zhì)量的必備工具。東莞PCB測試系統(tǒng)工藝
高精度高阻測試設備,助力新能源材料研發(fā)。國磊GEN3測試系統(tǒng)市價
CAF(ConductiveAnodicFilament)絕緣電阻導電陽極絲測試設備是一種信賴性試驗設備,主要用于評估PCB板內(nèi)部在電場作用下,跨越非金屬基材遷移傳輸?shù)膶щ娦越饘冫}構成的電化學遷移(CAF)現(xiàn)象。該測試通過給予印刷電路板一固定的直流電壓(BIASVOLTAGE),并經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時),觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(IONMIGRATION),并記錄電阻值變化狀況。因此,它也被稱為絕緣劣化試驗、絕緣阻力電阻試驗,或OPEN/SHORT試驗。國磊GEN3測試系統(tǒng)市價