光學(xué)檢測(cè)技術(shù)提升汽車玻璃質(zhì)量的研究與發(fā)展--領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)公司
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兩項(xiàng)一般性意見(jiàn)如下:如上所述,快電子在非彈性散射過(guò)程中會(huì)損失能量。這是文學(xué)中常見(jiàn)的表達(dá)。但是,能量實(shí)際上并沒(méi)有損失,而是分布到了二次電子激發(fā)。閃爍體中真正的能量損失是由以下與閃爍競(jìng)爭(zhēng)的過(guò)程引起的:點(diǎn)缺陷的形成、聲子,的產(chǎn)生、二次電子和光子從晶體中逃逸以及長(zhǎng)期磷光發(fā)射。 過(guò)渡金屬摻雜對(duì)YAP晶體透過(guò)邊有哪些影響?CeYAG晶體脈沖X射線激發(fā)衰減時(shí)間?Ce: YAP晶體在弱還原氣氛中生長(zhǎng),發(fā)現(xiàn)自吸收得到有效0,熒光激發(fā)的發(fā)光強(qiáng)度突出提高。同時(shí),研究了還原氣氛中生長(zhǎng)對(duì)Ce: YAP晶體其他閃爍性能的影響。晶體生長(zhǎng)過(guò)程中大的溫度梯度以及快的降溫速率等是CeYAP晶體產(chǎn)生開(kāi)裂的主要原因。廣西品質(zhì)CeYAP晶體批發(fā)價(jià)
Mn: YAP 和Ce, Mn: YAP 的熒光激發(fā)發(fā)射譜,714nm 和685nm發(fā)射峰為Mn4+ 離子 2E - 4A2 躍遷[113]。332 nm, 373 nm 和 480 nm ( λem=714nm) 分別屬于Mn4+離子的4A2→4T1 (4F), 4A2→4T1 (4P), 4A2→4T2 躍遷。Ce, Mn: YAP 晶體的Ce3+ 的發(fā)射峰在397nm,比Ce: YAP 晶體紅移了近30 nm,主要是Mn4+ 離子的吸收造成的。圖 4-49 中,Mn: YAP 和Ce, Mn: YAP在480 nm的吸收峰屬于Mn4+ 離子的4A2→4T2 躍遷,另從透過(guò)譜可知,Mn離子摻雜后Ce: YAP的透過(guò)邊有明顯紅移動(dòng),并且整體透過(guò)性能降低。甘肅大尺寸CeYAP晶體批發(fā)廠家離子摻雜濃度、原料的純度以及生長(zhǎng)工藝條件等是影響CeYAP晶體缺陷的主要原因。
在弱還原氣氛下生長(zhǎng)的Ce:YAP晶體,發(fā)現(xiàn)自吸收得到有效緩解,2mm厚度晶體透過(guò)邊藍(lán)移近30nm,熒光激發(fā)的發(fā)光強(qiáng)度提高了50%以上。同時(shí)研究了還原氣氛生長(zhǎng)對(duì)Ce:YAP晶體其他閃爍性能的影響。1.生長(zhǎng)了不同價(jià)態(tài)離子摻雜的Ce:YAP晶體,以研究電荷補(bǔ)償效應(yīng)對(duì)Ce4+離子的作用。結(jié)果發(fā)現(xiàn)兩價(jià)離子對(duì)Ce:YAP晶體閃爍性能有很強(qiáng)的負(fù)面影響,四價(jià)離子則有于助提高晶體的部分閃爍性能。2.研究了Mn離子摻雜對(duì)Ce:YAP晶體性能的影響。發(fā)現(xiàn)YAP基質(zhì)中Ce,Mn之間存在明顯的能量轉(zhuǎn)移過(guò)程。由于存在Ce3+離子的非輻射躍遷,Ce,Mn:YAP的衰減時(shí)間的快慢成分均變?yōu)樵瓉?lái)的一半,其中快成分為10ns左右,其小尺寸樣品可作為超快閃爍體應(yīng)用。Ce:YAP晶體的吸收光譜和熒光光譜受不同的生長(zhǎng)方法和不同的后熱處理工藝的影響很大。
不同溫度退火的Fe: YAP樣品的吸收光譜和差分吸收光譜是Fe: YAP樣品在不同溫度退火后的吸收光譜和微分吸收光譜。Fe: YAP晶體的吸收光譜在203納米、246納米、270納米和325納米附近有吸收峰。差示吸收光譜顯示,氫退火后264 ~ 270納米波長(zhǎng)范圍內(nèi)的吸收明顯減弱,氧退火后321納米出現(xiàn)差示吸收峰??梢哉J(rèn)為246 nm和270 nm處的吸收與Fe3有關(guān),即Fe3和Fe2之間存在躍遷[102]。除了321nm處的吸收,YAP: Fe的幾個(gè)吸收峰與純YAP晶體的吸收峰有一定距離,這不能解釋純YAP(Ce: YAP)中的其他吸收峰與鐵有關(guān)。 CeYAP晶體穩(wěn)定的化學(xué)性質(zhì)和良好的探測(cè)性能,在核醫(yī)學(xué),核防護(hù)等方面有著較廣的應(yīng)用前景。
有人計(jì)算過(guò)YAP晶體的能帶結(jié)構(gòu)[77,78]。結(jié)果表明,該氧化物晶體的價(jià)帶頂端由未結(jié)合的O2-離子組成,而價(jià)帶he心主要由O2-離子的2S能級(jí)和Y3離子的4P能級(jí)的混合物組成。導(dǎo)帶底部主要由Y3離子的4d和5S軌道組成,而Al3的3d能級(jí)在導(dǎo)帶中占據(jù)較高的能級(jí)位置。YAP晶體的禁帶寬度為7.9 eV,主要由Y-O相互作用決定,而不是Al-O相互作用。文獻(xiàn)[26]中也報(bào)道了YAP晶體的帶隙為8.02 eV。由于YAP晶體結(jié)構(gòu)的各向異性,很難獲得高質(zhì)量的晶體,但由于其廣闊的應(yīng)用前景,人們對(duì)YAP晶體的生長(zhǎng)過(guò)程做了大量的探索和研究。CeYAP晶體電子陷阱中捕獲的電子受環(huán)境影響較小。河北高溫CeYAP晶體元件
CeYAP晶體發(fā)光波長(zhǎng)為360-380nm,可與目前的光電接受裝置有效耦合。廣西品質(zhì)CeYAP晶體批發(fā)價(jià)
用原來(lái)的小坩堝(8050mm)生長(zhǎng)大尺寸晶體時(shí),晶體旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的強(qiáng)制對(duì)流對(duì)熔體溫場(chǎng),有很大擾動(dòng),導(dǎo)致晶體直徑控制問(wèn)題,無(wú)法實(shí)現(xiàn)有效等徑,從而影響晶體質(zhì)量,如圖3.6所示。所以我們選擇了11080mm的銥坩堝,壁厚3 mm。在晶體生長(zhǎng)過(guò)程中,溫場(chǎng)對(duì)晶體質(zhì)量有重要影響[88]。靜態(tài)下,溫度場(chǎng)比較簡(jiǎn)單。主要考慮晶體的熱傳導(dǎo)和熱輻射,可以得到晶體的溫場(chǎng)沿軸向?qū)ΨQ。當(dāng)溫度梯度沿軸向距離增大時(shí),各分量(軸向/徑向)呈指數(shù)下降,存在固液界面凹凸的臨界條件。詳細(xì)的計(jì)算過(guò)程和結(jié)果由Bu賴斯給出。廣西品質(zhì)CeYAP晶體批發(fā)價(jià)
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