交叉驗(yàn)證有時(shí)也稱為交叉比對(duì)，如：10折交叉比對(duì) [2]。Holdout 驗(yàn)證常識(shí)來(lái)說(shuō)，Holdout 驗(yàn)證并非一種交叉驗(yàn)證，因?yàn)閿?shù)據(jù)并沒(méi)有交叉使用。 隨機(jī)從**初的樣本中選出部分，形成交叉驗(yàn)證數(shù)據(jù)，而剩余的就當(dāng)做訓(xùn)練數(shù)據(jù)。 一般來(lái)說(shuō)，少于原本樣本三分之一的數(shù)據(jù)被選做驗(yàn)證數(shù)據(jù)。K-fold cross-validationK折交叉驗(yàn)證，初始采樣分割成K個(gè)子樣本，一個(gè)單獨(dú)的子樣本被保留作為驗(yàn)證模型的數(shù)據(jù)，其他K-1個(gè)樣本用來(lái)訓(xùn)練。交叉驗(yàn)證重復(fù)K次，每個(gè)子樣本驗(yàn)證一次，平均K次的結(jié)果或者使用其它結(jié)合方式，**終得到一個(gè)單一估測(cè)。這個(gè)方法的優(yōu)勢(shì)在于，同時(shí)重復(fù)運(yùn)用隨機(jī)產(chǎn)生的子樣本進(jìn)行訓(xùn)練和驗(yàn)證，每次的結(jié)果驗(yàn)證一次，10折交叉驗(yàn)證是**常用的 [3]。根據(jù)任務(wù)的不同，選擇合適的性能指標(biāo)進(jìn)行評(píng)估。崇明區(qū)自動(dòng)驗(yàn)證模型大概是

實(shí)驗(yàn)條件的對(duì)標(biāo)首先，要將模型中的實(shí)驗(yàn)設(shè)置與實(shí)際的實(shí)驗(yàn)條件進(jìn)行對(duì)標(biāo)，包含各項(xiàng)工藝參數(shù)和測(cè)試圖案的信息。其中工藝參數(shù)包含光刻機(jī)信息、照明條件、光刻涂層設(shè)置等信息。測(cè)試圖案要基于設(shè)計(jì)規(guī)則來(lái)確定，同時(shí)要確保測(cè)試圖案的幾何特性具有一定的代表性。光刻膠形貌的測(cè)量進(jìn)行光刻膠形貌測(cè)量時(shí)，通常需要利用掃描電子顯微鏡（SEM）收集每個(gè)聚焦能量矩陣（FEM）自上而下的CD、光刻膠截面輪廓、光刻膠高度和側(cè)壁角 [3]，并將其用于光刻膠模型校準(zhǔn)，如圖3所示。黃浦區(qū)自動(dòng)驗(yàn)證模型優(yōu)勢(shì)常見(jiàn)的有K折交叉驗(yàn)證，將數(shù)據(jù)集分為K個(gè)子集，輪流使用其中一個(gè)子集作為測(cè)試集，其余作為訓(xùn)練集。

性能指標(biāo)：根據(jù)任務(wù)的不同，選擇合適的性能指標(biāo)進(jìn)行評(píng)估。例如：分類任務(wù)：準(zhǔn)確率、精確率、召回率、F1-score、ROC曲線和AUC值等?；貧w任務(wù)：均方誤差（MSE）、均***誤差（MAE）、R2等。學(xué)習(xí)曲線：繪制學(xué)習(xí)曲線可以幫助理解模型在不同訓(xùn)練集大小下的表現(xiàn)，幫助判斷模型是否過(guò)擬合或欠擬合。超參數(shù)調(diào)優(yōu)：使用網(wǎng)格搜索（Grid Search）或隨機(jī)搜索（Random Search）等方法對(duì)模型的超參數(shù)進(jìn)行調(diào)優(yōu)，以找到比較好參數(shù)組合。模型比較：將不同模型的性能進(jìn)行比較，選擇表現(xiàn)比較好的模型。外部驗(yàn)證：如果可能，使用**的外部數(shù)據(jù)集對(duì)模型進(jìn)行驗(yàn)證，以評(píng)估其在真實(shí)場(chǎng)景中的表現(xiàn)。

簡(jiǎn)單而言，與傳統(tǒng)的回歸分析不同，結(jié)構(gòu)方程分析能同時(shí)處理多個(gè)因變量，并可比較及評(píng)價(jià)不同的理論模型。與傳統(tǒng)的探索性因子分析不同，在結(jié)構(gòu)方程模型中，可以通過(guò)提出一個(gè)特定的因子結(jié)構(gòu)，并檢驗(yàn)它是否吻合數(shù)據(jù)。通過(guò)結(jié)構(gòu)方程多組分析，我們可以了解不同組別內(nèi)各變量的關(guān)系是否保持不變，各因子的均值是否有***差異。樣本大小從理論上講：樣本容量越大越好。Boomsma（1982）建議，樣本容量**少大于100，比較好大于200以上。對(duì)于不同的模型，要求有所不一樣。一般要求如下：N/P〉10；N/t〉5；其中N為樣本容量，t為自由估計(jì)參數(shù)的數(shù)目，p為指標(biāo)數(shù)目。比較測(cè)試集上的性能指標(biāo)與驗(yàn)證集上的性能指標(biāo)，以驗(yàn)證模型的泛化能力。

4.容許更大彈性的測(cè)量模型傳統(tǒng)上，只容許每一題目（指標(biāo)）從屬于單一因子，但結(jié)構(gòu)方程分析容許更加復(fù)雜的模型。例如，我們用英語(yǔ)書寫的數(shù)學(xué)試題，去測(cè)量學(xué)生的數(shù)學(xué)能力，則測(cè)驗(yàn)得分（指標(biāo)）既從屬于數(shù)學(xué)因子，也從屬于英語(yǔ)因子（因?yàn)榈梅忠卜从秤⒄Z(yǔ)能力）。傳統(tǒng)因子分析難以處理一個(gè)指標(biāo)從屬多個(gè)因子或者考慮高階因子等有比較復(fù)雜的從屬關(guān)系的模型。5.估計(jì)整個(gè)模型的擬合程度在傳統(tǒng)路徑分析中，只能估計(jì)每一路徑（變量間關(guān)系）的強(qiáng)弱。在結(jié)構(gòu)方程分析中，除了上述參數(shù)的估計(jì)外，還可以計(jì)算不同模型對(duì)同一個(gè)樣本數(shù)據(jù)的整體擬合程度，從而判斷哪一個(gè)模型更接近數(shù)據(jù)所呈現(xiàn)的關(guān)系。 [2]模型在訓(xùn)練集上進(jìn)行訓(xùn)練，然后在測(cè)試集上進(jìn)行評(píng)估。崇明區(qū)自動(dòng)驗(yàn)證模型大概是

將數(shù)據(jù)集分為訓(xùn)練集和測(cè)試集，通常按70%/30%或80%/20%的比例劃分。崇明區(qū)自動(dòng)驗(yàn)證模型大概是

光刻模型包含光學(xué)模型和光刻膠模型，其中光刻膠模型描述了光刻膠曝光顯影過(guò)程中發(fā)生的物理化學(xué)反應(yīng)[1]。光刻膠模型可以為光刻膠的研發(fā)和光刻工藝的優(yōu)化提供指導(dǎo)。然而，由于模型中許多參數(shù)不可直接測(cè)量或測(cè)量較為困難，通常采用實(shí)際曝光結(jié)果來(lái)校準(zhǔn)模型，即光刻膠模型的校準(zhǔn)[2]。鑒于模型校準(zhǔn)的必要性，業(yè)界通常需要花費(fèi)大量精力用于模型校準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)與結(jié)果，如圖1所示 [3]。光刻膠模型的校準(zhǔn)的具體流程如圖2所示 [2]。光刻膠模型校準(zhǔn)主要包含四個(gè)部分：實(shí)驗(yàn)條件的對(duì)標(biāo)、光刻膠形貌的測(cè)量、模型校準(zhǔn)、模型驗(yàn)證。崇明區(qū)自動(dòng)驗(yàn)證模型大概是

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