SKYSCAN1275–適合每一個人的3DXRM系統(tǒng)SKYSCAN1275臺式系統(tǒng)是一套真正的三維X射線顯微成像系統(tǒng),為不同樣品的快速掃描而設計。得益于緊湊的幾何結構和快速的平板探測器,它只需要短短幾分鐘的時間就能得到結果。這使其成為質量控制和產品檢測的理想選擇。SKYSCAN1275還具備高水平的自動化,具有***的易用性。按下控制面板上的按鈕,啟動一個自動進行快速掃描的序列,然后是重建和體渲染。在下一個樣品進行掃描時,所有的步驟也已完成??蛇x16位自動進樣器可用于實現無人值守的高通量掃描。SKYSCAN1275擁有3D.SUITE配套軟件。這個綜合性的軟件包涵蓋GPU加速重建、2D/3D形態(tài)分析,以及表面和容積渲染可視化。SKYSCAN 1272 CMOS XRM可以無損地實現泡沫內部結構的三維可視化。天津進口顯微CT檢測
高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)━內部結構非破壞性的成像技術眼見為實!這是我們常常將顯微鏡應用于材料表征的原因。傳統(tǒng)的顯微鏡利用光或電子束,對樣品直接進行成像。其他的,如原子力顯微鏡(AFM),則利用傳感器來檢測樣品表面。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結構或特性的局部二維圖像。但是,是否存在一種技術能實現以下幾點功能?☉內部結構三維成像?⊙一次性測量整個樣品?⊙直接檢測?⊙無需進行大量樣品制備,如更換或破壞樣品,就能實現上述目標?福建BRUKER顯微CT配件SKYSCAN 1272檢測顯微和復合材料時:嵌入對象的方向層厚、尺寸和定量分析、原位樣品臺檢測溫度和物理性質。
局部取向分析CTAn提供了一個新的插件來執(zhí)行局部取向分析,以一定半徑內的灰度梯度的計算為基礎,可進行2D或3D的分析。圖像A為CFRP材料的纖維取向分析。圖像B為人體椎骨切片,垂直的小梁以紅色顯示,而水平支撐小梁以藍色顯示,節(jié)點和斜結構顯示綠色。種子生長函數CTAn中添加了種子生長函數。從ROI-shrink-wrap插件可以選擇Fill-out模式。該函數通過二值化區(qū)域內部的一個種子來生長感興趣區(qū)域(VOI)。它從內部填充而不是從外部收縮來創(chuàng)建VOI,在許多應用中非常有用的,例如,在進行胚胎細胞的分割(圖像C)時不誤選具有相似密度的其他軟組織。
在納米CT圖像定量分析的過程中,相信大家都遇到過這樣的情況:很難找到一個合適的閾值來分割我們要分析的對象。尤其是對于顯微ct掃描樣品中的細微結構而言,由于沒有足夠高的分辨率來表征,高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值,局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對我們的閾值選取、個體分割造成了非常大的困難,尤其是動輒幾百兆,幾個G的三維CT數據。所以在進行閾值分割之前,各種濾波工具就被我們拿來強化對象,弱化背景噪音,以期能夠得到一個更準確的結果??勺儙缀蜗到y(tǒng)能在空間分辨率、可掃描樣品尺寸、掃描速度、圖像質量之間找到完美的平衡。
新品重磅出擊!多量程X射線納米CT系統(tǒng)型號:SKYSCAN2214產地:比利時新型的多量程納米CT-SkyScan2214完美的解決了樣品尺寸多樣化與空間分辨率的矛盾,一臺設備即可實現從微米到分米尺寸樣品的高分辨率掃描。創(chuàng)新性的采用幾何放大與光纖放大相結合的兩級放大模式,使樣品在距離光源很大距離的情況下依然獲得亞微米級的分辨率,同時還解決了光學透鏡二級放大帶來的掃描效率低的問題,用戶無需再花費幾個小時甚至是數十個小時等待一個結果了。軟件使用修正的Feldkamp 多層體積(錐束)重建算法。單層或選定/全體積在一個掃描后也能重建。湖南布魯克顯微CT推薦咨詢
顯微CT即Micro-CT,為三維X射線成像,與醫(yī)用CT(或“CAT”)原理相同,可進行小尺寸、高精度掃描。天津進口顯微CT檢測
SKYSCAN1272SampleDimensionsMμm):2mm(insideFOV)/5mm(truncated)Largestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat100kVGeomaterials:20mmRocksamplesupto10mmgivegoodresults.Metals:5mmElectronics:10–20mmMetalparts(highdensity)requireverylongmeasuringtimesifadecentresolutionisneededLow-densematerials:40mmScannedat50kVPixelsize:0.85μmObservationoftheindividualfibersColor-codedbytheorientationangleD天津進口顯微CT檢測